AIとシミュレーションを融合しまれな不具合を効率的に発見する技術を開発

AIとシミュレーションを融合し

まれな不具合を効率的に発見する

技術を開発

－設計時の見落としリスクを軽減しつつ

  検証時間を大幅短縮－

2018/05/11

産業技術総合研究所

詳細は、リンクを参照して下さい。

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　日本電気株式会社(以下 NEC)と

国立研究開発法人 産業技術総合研究所

(以下 産総研)は、発生確率が極めて低い

ため設計段階で事前に発見が難しい不具合

を、AI(人工知能)が学習をしながら

シミュレーションを繰り返して

効率的に見つけ出す「希少事象発見技術」

を開発しました。

　本技術は、NEC の最先端AI技術群

"NEC the WISE"(注1)の1つです。

　今回、本技術を光学機器の設計検証に

実際に適用したところ、

発生確率が1億分の1程度とまれである

ものの、性能低下の原因となる「迷光」

(注2)について、熟練の専門家が

1週間を要していた検証作業を約1日に

大幅に短縮し、複数の不具合を

見落とすことなく発見することに

成功しました。

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　「希少事象発見技術」

AIとシミュレーションを融合させる。

なかなか興味深い研究ですね。

　設計時の見落としリスクを軽減出来そう

です。

　今後の発展に期待したい。