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2018年5月14日 (月)

AIとシミュレーションを融合しまれな不具合を効率的に発見する技術を開発

2018/05/11
産業技術総合研究所
 
詳細は、リンクを参照して下さい。
 
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 日本電気株式会社(以下 NEC)と
国立研究開発法人 産業技術総合研究所
(以下 産総研)は、発生確率が極めて低い
ため設計段階で事前に発見が難しい不具合
を、AI(人工知能)が学習をしながら
シミュレーションを繰り返して
効率的に見つけ出す「希少事象発見技術」
を開発しました。
 
 本技術は、NEC の最先端AI技術群
"NEC the WISE"(注1)の1つです。
 
 今回、本技術を光学機器の設計検証に
実際に適用したところ、
発生確率が1億分の1程度とまれである
ものの、性能低下の原因となる「迷光」
(注2)について、熟練の専門家が
1週間を要していた検証作業を約1日に
大幅に短縮し、複数の不具合を
見落とすことなく発見することに
成功しました。
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 「希少事象発見技術」
AIとシミュレーションを融合させる。
なかなか興味深い研究ですね。
 
 
 設計時の見落としリスクを軽減出来そう
です。
 
 今後の発展に期待したい。

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